Rango de tolerancia de la característica inspeccionada. Para tolerancias unilaterales basta con USL o LSL; en ese caso solo se calcula el índice correspondiente.
Límite superior de especificación (USL)
Valor superior de tolerancia
Límite inferior de especificación (LSL)
Valor inferior de tolerancia
Valor nominal / objetivo (opcional)
Solo para mostrarlo en la curva de campana
Media y desviación estándar muestral (s, divisor n−1) de su proceso.
Media (x̄)
Posición del proceso
Desviación estándar (s)
Desviación estándar muestral (n−1)
Valores medidos
Separador decimal: punto. Separe los valores con coma, espacio o salto de línea. Mínimo 2 valores.
Número de valores (n)
–
Media (x̄)
–
Desviación estándar (s)
–
CPK
Valoración
Excelente
Cp (potencial)
–
Defectos
–ppm
Distribución normal del proceso con la media, USL y LSL. Las áreas rojas marcan la proporción de defectos esperada fuera de la tolerancia.
Distribución del proceso
Proporción de defectos (fuera de tolerancia)
La curva es una distribución normal calculada a partir de su media y su desviación estándar. Si la media no se sitúa en el centro entre los límites, el proceso no está centrado.
Centrado
Cp es el potencial (solo dispersión) y Cpk el valor real (dispersión + posición). Una diferencia grande indica que la posición del proceso está descentrada.
Cp (potencial)
–
Cpk (real)
–
i
Bandas de valoración públicas de la capacidad de proceso.
–
No capaz
< 1,00
Límite
1,00–1,33
Capaz
1,33–1,67
Excelente
≥ 1,67
Los valores objetivo vinculantes dependen del sector y del cliente (en automoción suelen ser 1,33 o 1,67). No afirmamos cifras objetivo específicas de cada sector.
Mantener el nivel
Mantener y supervisar la capacidad
El proceso es capaz. Asegure el nivel mediante el control estadístico de procesos (SPC), gráficos de control y mantenimiento preventivo de los equipos.
Herramienta: Calculadora OEE
Palanca principal
Centrar el proceso
Cp es claramente mayor que Cpk: la media está descentrada. Ajuste el proceso al valor nominal (corrección de herramienta, parámetros de ajuste). Esto eleva Cpk de forma notable sin reducir la dispersión.
Herramienta: Calculadora de tasa de rechazo / FPY
Palanca principal
Reducir la dispersión
Cp y Cpk son similarmente bajos: la dispersión del proceso (6σ) es demasiado grande para la tolerancia. Reduzca la dispersión mejorando la capacidad de máquina y la estabilidad de material y método (SPC, gráficos de control, DoE).
Herramienta: Calculadora de tasa de rechazo / FPY
Compartir y exportar el resultado
Sus datos quedan guardados en el enlace: sin cuenta, sin backend.
Introduzca al menos un límite de especificación, así como la media y la desviación estándar (o los valores medidos), para calcular Cp, Cpk y la tasa de defectos.
Una herramienta gratuita de SYMESTIC – Manufacturing Execution System desde la nube.
CÓMO FUNCIONA LA CALCULADORA
Miniguía: calcular Cp y Cpk en 3 pasos
A partir de los límites de especificación y la posición del proceso, la herramienta calcula al instante Cp, Cpk, Pp, Ppk, ppm y el rendimiento. Proceda así:
1
Introducir los límites de especificación
Introduzca el límite de tolerancia superior (USL) o inferior (LSL). De forma opcional, el valor nominal para mostrarlo en la curva de campana. Se admiten tolerancias unilaterales.
2
Registrar la posición del proceso
Introduzca directamente la media y la desviación estándar, o cambie arriba a la derecha a «Valores medidos» y pegue su serie de mediciones. La herramienta calcula x̄ y s.
3
Leer y valorar el resultado
Cp, Cpk, ppm y el rendimiento aparecen al instante. La curva de campana muestra la posición respecto a la tolerancia y el análisis de centrado, la mayor palanca de mejora.
Cp
(USL − LSL) ÷ 6σ
Potencial del proceso: relación entre la amplitud de tolerancia y la dispersión, sin tener en cuenta la posición.
Cpu / Cpl
(USL−x̄)÷3σ · (x̄−LSL)÷3σ
Índices de capacidad unilaterales respecto al límite superior e inferior.
Cpk
min(Cpu, Cpl)
Capacidad real: la distancia más crítica al límite de especificación más cercano.
Pp / Ppk
= Cp / Cpk
Rendimiento a largo plazo con la dispersión total. Con esta fuente de σ, idéntico aritméticamente a Cp/Cpk.
ppm
10⁶ × (Φ_inferior + Φ_superior)
Proporción de defectos esperada por millón fuera de los límites de especificación bajo una distribución normal.
σ es aquí la desviación estándar muestral (divisor n−1) sobre todos los valores medidos. ppm se calcula bajo el supuesto de una distribución normal (Φ = distribución normal estándar).
PREGUNTAS FRECUENTES
Cp, Cpk y capacidad de proceso: preguntas frecuentes
Conceptos, fórmulas y consejos prácticos sobre la capacidad de sus procesos.